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IEC 60748-1 AMD 1-1991 半导体器件.集成电路.第1部分:总则.修改件1

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 06:04:08  浏览:8455   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;integratedcircuits;part1:general;amendment1
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.第1部分:总则.修改件1
【标准号】:IEC60748-1AMD1-1991
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1991-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子设备及元件;集成电路;电气工程
【英文主题词】:electricalengineering;integratedcircuits;semiconductordevices;electronicequipmentandcomponents
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:33P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Specificationforelectricalmeasuringinstruments-X-trecorders-Recommendedadditionaltestmethods
【原文标准名称】:电气测量仪表.X-t记录仪.推荐的补充试验方法
【标准号】:BSEN61143-2-1993
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1993-03-15
【实施或试行日期】:1993-03-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流测量;电气工程;电学测量;电学测量仪表;影响量;测量;测定;测量仪器;测量范围;测量技术;工作性能;精密度;额定值;记录仪器;记录仪表;电阻器;规范(验收);试验;测试条件;变化;电压测量;磨损量;X-T记录仪
【英文主题词】:Currentmeasurement;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electricalmeasuringinstruments;Influencequantities;Measurement;Measuring;Measuringinstruments;Measuringranges;Measuringtechniques;Performanceinservice;Precision;Ratings;Recordinginstruments;Recordinginstruments(measurement);Resistors;Specification(approval);Testing;Testingconditions;Variations;Voltagemeasuring;Wear-quantity;X-t-recorders
【摘要】:SpecifiestestsadditionaltothosespecifiedinBS89-9.TobereadinconjunctionwithBS89-9BSEN61143-1
【中国标准分类号】:N25
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语



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